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　　X光鍍層測(cè)厚儀可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，不單性能*，而且價(jià)錢*，同比其他牌子相同配置的機(jī)器，X光鍍層測(cè)厚儀為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘，便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)，鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)，十字線自動(dòng)調(diào)整。超大/開(kāi)放式的樣品臺(tái)，可測(cè)量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的選擇。可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度等。
 

　　X光鍍層測(cè)厚儀的工作原理：

　　X光鍍層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

　　1、磁性法(F型測(cè)量頭)：

　　當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)量頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
 

　　2、渦流法(N型測(cè)量頭)：

　　利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)量頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。
 

　　X光鍍層測(cè)厚儀的產(chǎn)品特點(diǎn)：

　　1、良好的射線屏蔽作用。

　　2、測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。

　　3、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加。

　　4、滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求。

　　5、φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求。

　　6、高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm。

　　7、采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度。

　　8、定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊。

　　9、鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)。