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韓國XRF2000X射線鍍層測厚儀測量樣品高度達(dá)到20cm
點(diǎn)擊次數(shù):1951 更新時(shí)間:2016-09-28

 

韓國MICRO PIONEER X射線鍍層測厚儀測量樣品高度達(dá)到20cm


韓國先鋒XRF-2000X射線鍍層測厚儀開發(fā)出一款產(chǎn)品型號加高H型
機(jī)箱容納樣品長寬均為55cm,高度在原基礎(chǔ)上容納電鍍工件10CM可加高至20CM
此款型號可滿足客戶對大型樣品檢測要求,對測量五金工件,電氣類工件
及衛(wèi)浴電鍍工藝能準(zhǔn)確測量出電鍍層厚度。

 

 

韓國XRF-2000X射線鍍金層測厚儀

檢測電鍍層厚度,可檢測鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍錫,鍍鋅,鍍鉻,鍍鈀等
可測量單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層

單鍍層:如銅上鍍鎳,銅上鍍銀,銅上鍍錫,鐵上鍍鎳等,不限底材
雙鍍層:銅上鍍鎳鍍金,鐵上鍍銅鍍鎳等
多鍍層:鐵上鍍銅鍍鎳鍍銀,銅上鍍鎳鍍鈀鍍金等
合金鍍層:銅上鍍鋅鎳等

XRF-2000X射線鍍層測厚儀


儀器配置
 
全自動臺面

自動雷射對焦
多點(diǎn)自動測量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測樣品)
測量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測試范圍:0.04-35um
可測試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時(shí)間:15秒
 
精度控制:
      *層:±5%以內(nèi)
      第二層:±8%以內(nèi)
      第三層:±12%以內(nèi)


X射線鍍層測厚儀/X射線金屬鍍層測厚儀(韓國先鋒XRF-2000)
 
韓國先鋒XRF2000鍍層測厚儀
 
XRF-2000鍍層測厚儀共分三種型號

不同型號各種功能一樣

機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹
XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm
XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm
以上兩款型長容納樣品長寬為55cm

加高型容納樣品至20CM內(nèi)

 

XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm(開放式設(shè)計(jì),長寬不限)

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